雙波段發(fā)射率測量儀IR-2200 元/樣起可測粉末、薄膜、塊體,可測范圍:1-22 微米或者 8-14 微米。項目簡介雙波段發(fā)射率結果展示樣品要求儀器是點源測試(即一個點測出一個數(shù)據(jù)),非全掃描,每樣品正常測9次計算得到平均值,塊體:樣品直徑3.5--4.8cm的片,厚最好1mm以上,太薄會透射,表面不要太粗糙有基底的薄膜樣品,薄膜厚度最好10微米以上,太薄了測試基本上不準確粉末5g,不建議用粉末測試,誤差較大