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項目簡介
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法,主要用于確定材料中元素的種類和含量。XRF是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫(yī)學,考古學等。
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