PPMS-VSM精度比MPMS-SQUID差約兩個數(shù)量級，VSM通常用于測試強信號樣品（如鐵磁塊體和粉末等），SQUID通常用于測試弱信號樣品（如薄膜或磁性較弱的鐵磁/反鐵磁/亞鐵磁粉末和塊體樣品等）。選擇什么設(shè)備進行測試，主要依據(jù)是樣品的信號大小，如果樣品磁矩信號大于5E-5 emu，用VSM就可以滿足，如果樣品磁矩信號小于5E-5 emu，建議用SQUID，SQUID精度比較高。

相對磁導率，有時候被定義為符號μ_r，是介質(zhì)的磁導率μ和真空磁導率μ₀的比值：μ_r = μ /μ₀以相對磁導率的形式；磁化率為：χ_m = μ_r– 1。χ_m是一個無量綱的量，有時候被稱為體積磁化率，以區(qū)別χ_p （質(zhì)量磁化率）和χ_M（摩爾或摩爾質(zhì)量磁化率）。在真空中磁感應(yīng)強度B與磁場強度H間的關(guān)系為：B=μ₀H； 在磁性材料中：B=μ₀（H+M），磁性材料的磁導率定義為磁感應(yīng)強度與磁場強度之比：μ=B/H，μ₀：真空磁導率；μ：絕對磁導率，單位為H/m，μ_r：相對磁導率；μ_r =μ/μ0，磁化率定義為磁化強度與磁場強度之比：χ=M/H。

磁滯回線與M等于的零軸（H軸）的交點即為矯頑力，與H等于零的軸（M軸）的交點即為剩磁。實際測試時，由于樣品具有一定尺寸，很難在設(shè)備的鞍點上精確對心（即使樣品的重心與設(shè)備的鞍點中和，一般情況下樣品不是球形，很難達到中心對稱），因此導致測量時磁化強度M不是嚴格按照磁場H（X軸）對稱，會有大概低于毫emu量級的偏差，但這個偏差相對于磁矩的測量值是一個非常小的值（從磁滯回線圖上肉眼無法分辨的差別），實際上一般只有“千分之幾”的偏差量級，是一個極小值。與X軸交點絕對值之和除以2就是矯頑力。

ZFC/FC測試，屬于特殊的MT測試，ZFC是樣品在0磁場下降至低溫，然后在低溫施加一個磁場，邊升溫邊測試；FC是樣品在磁場條件下降至低溫，保持磁場大小不變，邊升溫邊測試。因此ZFC/FC是不同降溫（是否施加磁場）下的MT測試，相當于2條MT曲線。有的會要求降溫過程測試FC（也稱為FCC），但FCC測試時，由于和ZFC變溫方向不同，會由于熱傳導的滯后效應(yīng)，使得ZFC和FCC錯位。所以一般建議FC也和ZFC一樣，用升溫測試。